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MEMS检测及微操作系统903次阅读 1970-01-01
MEMS检测及微操作系统 主要研究内容: 主要完成一个自动化的MEMS封装和检测系统。封装主要是完成0-20mm的两个极板的对准和粘接,粘接是在对准后,通过加压,使极板与芯片接触并并粘合;检测主要是完成0-20mm的MEMS芯片的表面非接触检测,包括:表面形貌(主要指粗糙度)、各种沟槽的三维几何测量。技术指标: 1、封装技术指标 操作对象:方形0-15mm,圆形0-15mm,重量0-10g,厚度"
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