基于FinFET 22nm工艺的灵敏放大器验证工具开发

现状：
基于FinFET 22nm工艺，设计完成两套采用全定制方法设计的灵敏放大器的性能测试工具的开发。

需解决问题：
提供两套共计的技术和使用说明文档，并对灵敏放大器进行全方位的性能评估，使其满足相关性能要求。

达到的指标：
提取灵敏放大器的性能指标提供清晰直观的可视化图表。