双闭环控制系统的设计

现状：
针对精密仪器的电控性能，目前仪器无法很好实时跟踪被测信号，给测量工作带来极大的不便

需解决问题：
实现仪器可连续跟踪被测信号

达到的指标：
根据产品需求，开发双闭环控制系统用于实现仪器可连续跟踪被测信号